半导体分立器件测试系统SC2010

1.1 系统概述

半导体分立器件测试系统SC2010是一款非常具有代表性的新型半导体晶体管参数测试图示系统，是美国STI5000系列测试机的完美国产替代机型，本系统可自动生成功率器件的I-V曲线，也可根据客户的实际需求设置功能测试，直接读取数显结果。系统在失效分析，IQC来料检验及高校实验室等部门有广泛的应用。系统生成的曲线都使用ATE系统逐点建立，保证了数据的准确可靠。系统典型的测试时间6~20ms,通常上百个数据点曲线只需要几秒钟时间便可以展现出来，数据捕获的曲线可导入EXCEL等格式进一步分析研究，是一款高效多功能的高端半导体测试设备。

本系统使用方便，只需要通过USB或者RS232与电脑连接，通过电脑中友好的人机界面操作，即可完成测试。并可以实现测试数据以EXCEL和WORD的格式保存。系统提供过电保护功能，门极过电保护适配器提供了广泛的诊断测试。这些自我测试诊断被编成测试代码,以提供自我测试夹具,在任何时间都可以检测。对诊断设备状态和测试结果提供了可靠地保证。

1.2 关键指标

1.测试电压：    0-2000V

2.测试电流：    0-100A

3.电压分辨率： 1mV

4.电流分辨率： 0.1nA

5.测试精度：    0.2%+2LSB

6.测试速度：    约0.5mS/参数

7.测 试 方 式： 程控脉冲式

8.脉 冲 宽 度： 300us至5ms

9.规 格 尺 寸： 570*450*280mm

1.3 测试能力及特点

SC2010测试系统是专为测试半导体分立器件而研发设计，它具有十分丰富的编程软件和强大的测试能力，能够真实准确测试以下类型的半导体器件以及相关器件组成的组合器件、器件阵列：

1.4 系统曲线列表

1.5 实测曲线展示

1.6 应用领域

分立器件设计厂家、封装厂、电子产品厂家来料检验、实验室选型配对、设备维修分析、高校器件教学、研究所参数选型等等。