晶体管参数测试系统SC2020

系统概述

晶体管参数测试系统SC2020是我司自主研发的半导体分立器件电学参数测试的专用设备，主要用于半导体器件生产厂家进行圆片中测或封装成测，各类整机厂家、科研院所的质量检测部门IQC进行来料检验，研发部门进行失效分析、选型配对、可靠性分析测试。

系统为桌面放置的台式机结构，由测试主机和程控电脑两大部分组成。外挂各类夹具和适配器，还能够通过Prober接口、Handler接口可选（16Bin）连接分选机和机械手建立工作站，实现快速批量化测试。通过软件设置可依照被测器件的参数等级进行自动分类存放。能够极好的应对“来料检验 ”“失效分析 ”“选型配对 ”“量产测试 ”等不同应用场景。

系统软件基于Labview平台开发，填充式菜单界面，带自动纠错功能，可进行器件参数的分档、分类编程，并可实时显示和记录分档、分类测试结果，测试结果和统计结果均可以EXCEL格式存贮于计算机中，根据需要可以打印输出。

系统特点

◆ 系统采用大规模32位ARM&MCU设计

◆ 可测试7大类26分类的电子元器件

◆ 程控高压源1400V，提供2000V选配

◆ 程控高流源40A，提供100A,200A,500A 选配

◆ 控制极电压可达40V，电流可达100mA

◆ 系统数据采集采用16位ADC，1M/S采样速率

◆ 测试漏流最小分辨率达1.5pA

◆ 四线开尔文连接保证加载测量的准确

◆ Prober接口、Handler接口可选（16Bin）

◆ 连接分选机最高测试量为每小时1万个

◆ 可为用户提供丰富的测试适配器

◆ 可选配测试结电容，诸如Ciss，Crss，Coss；

◆ 系统符合《GJB128半导体分立器件试验方法》等相关行业测试标准

系统指标

应用场景