-
半导体分立器件测试系统SC2010
品牌： 中昊芯测
名称： 半导体分立器件测试系统 晶体管图示仪
型号： SC2010
用途： 测试二三极管，MOS管，IGBT，晶闸管，光耦等分立器件¥ 0.00立即购买
-
晶体管参数测试系统SC2020
品牌：中昊芯测
名称：晶体管参数测试系统 分立器件参数测试仪
型号：SC2020
用途：测试二三极管，MOS管，IGBT，晶闸管，光耦等分立器件¥ 0.00立即购买
-
IGBT静态参数测试仪SC5016
品牌： 中昊芯测
名称： 可单独测试IGBT模块，也可在线路板上进行线上测试
型号： SC5016
用途： 大功率IGBT模块，在线测试，检修，失效分析¥ 0.00立即购买
-
标准台式源表
品牌： semight
名称： 标准台式源表
型号： S3022F/3012H/2000H系列/3030F
用途： 广泛应用于电子元器件、电路、半导体材料的伏安特性测试¥ 0.00立即购买
-
PXle插卡式源表
品牌：Semight
名称：PXle插卡式源表
型号：S0342C/S2011C/S2012C/S2013C/S2014C/S2016C
用途：PXIe源表模块，支持标准的PXIe机箱，方便集成和扩展多通道源表，组建大规模集成化测试系统¥ 0.00立即购买
-
七位半数字多用表
品牌： CASIC
名称： 七位半数字多用表
型号： AMC93200
用途： 国内第一台七位半数字多用表，可以进行高精度电压、电流、电阻、电容等电参数的精密测量¥ 0.00立即购买
-
半导体CMTI测试系统
品牌： FORCREAT
名称： 半导体CMTI测试系统
型号： PPS-CMTIX
用途： 用于半导体CMTI相关测试¥ 0.00立即购买
-
I/V自动曲线量测仪
品牌： SCTEST
名称： I/V自动曲线量测仪 AUTO CURVE TRACER
型号： Smart-1
用途： 对集成电路IC进行I/V曲线测试，是IC产品失效分析最常用的分析工具¥ 0.00立即购买
-
超声波扫描显微镜
品牌： CASIC
名称： 超声波扫描显微镜
型号： AMC99026
用途： 用于材料表层及内部缺陷检测¥ 0.00立即购买
